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功率分析儀

功率分析儀來自德國(guó)的高精度功率測(cè)量方案

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磁芯損耗測(cè)試:ZES 功率分析儀LMG系列

作者: admin 編輯: 來源: 發(fā)布日期: 24-09-06
信息摘要:
磁芯損耗測(cè)試:ZES 功率分析儀LMG系列在電機(jī)的鐵磁元件中,磁芯損耗是由于磁場(chǎng)變化的影響而產(chǎn)生的, ...

磁芯損耗測(cè)試:ZES 功率分析儀LMG系列

在電機(jī)的鐵磁元件中,磁芯損耗是由于磁場(chǎng)變化的影響而產(chǎn)生的,這種影響都是由不斷的磁極倒轉(zhuǎn)和渦流損耗引起的,這些渦流損耗Z終轉(zhuǎn)化為熱能或聲能。電機(jī)磁芯損耗測(cè)試。


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功率測(cè)試儀使用方法


磁芯損耗通常是一直存在的,當(dāng)然,因?yàn)閾p耗的多少對(duì)電池及電機(jī)都會(huì)產(chǎn)生不良影響,例如,會(huì)減少電動(dòng)車電池的效率,所以,不管任何時(shí)候,我們都希望盡量減少這種損耗。


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電機(jī)磁芯損耗測(cè)試


通過測(cè)試?yán)@組的勵(lì)磁電流和傳感器繞組的磁化電壓,可以直接測(cè)量鐵芯的功率損耗。磁芯材料中的磁通密度可以由傳感器繞組中感應(yīng)電流的整流值導(dǎo)出。磁場(chǎng)強(qiáng)度與流過測(cè)試?yán)@組的電流成正比。高頻電流可以直接在磁芯中測(cè)量,高精度傳感器被用來測(cè)量高安培的疊片磁芯。


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功率測(cè)試儀使用方法


磁芯損耗的測(cè)試對(duì)功率分析儀提出來巨大的挑戰(zhàn)。1、需要測(cè)量極低功率因數(shù)下的準(zhǔn)確功率值(功率因數(shù)<0.01),這個(gè)數(shù)值很多功率分析儀是無法給出準(zhǔn)確的高精度數(shù)值的。2、大量變量值的計(jì)算,比如磁場(chǎng)強(qiáng)度(Hpk)、磁通密度(Bpk)等。

Zimmer高精度功率分析儀LMG系列功率分析儀,可在0.01功率因數(shù)下保障極高的測(cè)量精度、極高的帶寬及大量數(shù)據(jù)的計(jì)算輸出。

 

圖片3

高精度功率分析儀


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