磁芯損耗測試：ZES 功率分析儀LMG系列
在電機的鐵磁元件中，磁芯損耗是由于磁場變化的影響而產(chǎn)生的，這種影響都是由不斷的磁極倒轉(zhuǎn)和渦流損耗引起的，這些渦流損耗Z終轉(zhuǎn)化為熱能或聲能。電機磁芯損耗測試。
磁芯損耗通常是一直存在的，當然，因為損耗的多少對電池及電機都會產(chǎn)生不良影響，例如，會減少電動車電池的效率，所以，不管任何時候，我們都希望盡量減少這種損耗。
通過測試繞組的勵磁電流和傳感器繞組的磁化電壓，可以直接測量鐵芯的功率損耗。磁芯材料中的磁通密度可以由傳感器繞組中感應電流的整流值導出。磁場強度與流過測試繞組的電流成正比。高頻電流可以直接在磁芯中測量，高精度傳感器被用來測量高安培的疊片磁芯。
磁芯損耗的測試對功率分析儀提出來巨大的挑戰(zhàn)。1、需要測量極低功率因數(shù)下的準確功率值（功率因數(shù)＜0.01），這個數(shù)值很多功率分析儀是無法給出準確的高精度數(shù)值的。2、大量變量值的計算，比如磁場強度（Hpk）、磁通密度（Bpk）等。
Zimmer的高精度功率分析儀LMG系列功率分析儀，可在0.01功率因數(shù)下保障極高的測量精度、極高的帶寬及大量數(shù)據(jù)的計算輸出。
